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放射免疫分析法
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根據(jù)抗原抗體特異性結合的原理，以放射性同位素標記抗原或抗體，根據(jù)射線的多少定性或定量測定待檢標本中抗體或抗原的量的一種檢測分析技術.
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主要有兩種:RIA和IRMA
相同: 均為以抗原抗體的免疫反應為基礎，測定對象為物質(zhì)的抗原；
不同:RIA為競爭性，標記物為抗原
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  結合部分放射性與待測抗原濃度呈負相關,在直角坐標系呈曲線
  為了產(chǎn)生競爭,抗體僅使用結合50%抗原的量,故靈敏度較免放法低
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IRMA 為 非競爭性，標記的是抗體，且為過量（高滴度）
結合部分放射性與待測抗原濃度呈正相關，因抗體為過量，不存在競爭結合，故結合在固相物上的放射性計數(shù)與抗原濃度呈正比，在直角坐標系近似直線
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1 RIA 放射免疫: 基于競爭法原理
標記抗原（Ag*）和非標記抗原（Ag）與*抗體（Ab）競爭性結合。隨著Ag增加，Ag*與Ab結合形成Ag*Ab復合物的放射量降低,二者變化成反比函數(shù)關系。                 
 

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 2  IRMA 免疫放射:非競爭性結合
2.1單位點抗原IRMA原理圖:
 
 先用過量標記抗體與待測抗原進行反應，形成抗原抗體復合物；用固相抗原結合未結合標記抗體并將其分離, 測定上清液的放射量
 
2.2雙位點抗原IRMA原理圖:
 
先用固相抗體與抗原結合，再用過量的標記抗體與抗原的另一決定簇結合，形成固相抗體-抗原-標記抗體復合物，洗棄剩余標記抗體，測固相上放射量。
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德國IBL放免試劑盒 基本加樣步驟:
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           試劑   （零標準品） S₀   S₁ ~S₅   樣品   標記抗體/標記抗原
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按說明書依次入試管內(nèi)
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             孵育放置等
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             洗滌液或分離劑 
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              Υ-計數(shù)器讀數(shù)
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結果計算：
  以N/T、B/T計算NSB、S₀ 結合百分率，以B/B₀ 計算標準及待測物結合百分率，
在半對數(shù)座標紙上繪制標準曲線，并查出樣品值或由自動Υ-計數(shù)儀器直接讀出結果。
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